低温拉伸性能测试，测磁滞回线的方法

低温拉伸性能测试，测磁滞回线的方法

对于DC测量，次级线圈产生的感应磁场：

,A是圆环的横截面积，磁通量Φ通过磁通计读取。

对于AC测量，感应磁场B通过次级线圈的感应电压V（t）对时间的积分获得。大可测量至1MHZ甚至更高

A 为样品的横截面积。

符合的：IEC60404-2/ IEC60404-4/ IEC60404-6/ASTM A773

原理图

标准配置：

 电机柜，包括1台数字磁通计、1台函数发生器、1台功率放大器、1台数字示波器

 环状测试工具

 电脑和打印机

 Soft2009软件

 Fe-Si标准样品

测试类型：完整的磁滞回线，初始磁化曲线，磁导率曲线

可测试的材料形状：条带，环状，棒状，不规则形状