pe低温拉伸测试，磁滞回线的测定

pe低温拉伸测试，磁滞回线的测定

温度区间：1.9-400 K 连续控制 降温速度：15-25 K/min（10K < T < 300K），3-6K/min（1.9K< T< 10K） 样品室内径：8- 10mm 磁场强度：±7 T 磁场均匀度：3-5 cm 长度范围内达到0.01% 励磁速率：大速率高于600 Oe/s 励磁分辨率：高于0.5 Oe 剩磁：小于8Oe （从7T振动模式降场） 样品振动范围：0.1 -8 mm（峰值） 大测量磁矩：10 emu。

主要应用：

MPMS 系统磁学灵敏度可高达10-9emu，基系统的测量温度范围为<1.9K - 400K，同时设备由超导磁体提供高到7特斯拉的外加磁场。高温选件可以在室温至1000K区间测量磁矩。