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金属杨氏模量的测量,测薄膜电导率

更新时间
2025-01-28 11:00:00
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详细介绍

金属杨氏模量的测量,测薄膜电导率

护套

GB/T 2951.21-2008


6

热收缩试验


6.1

绝缘

GB/T 2951.13-2008

6.2

护套

GB/T 2951.13-2008

7

低温弹性和冲击强度


7.1

绝缘低温弯曲试验

GB/T 2951.14-2008

7.2

绝缘低温拉伸试验

GB/T 2951.14-2008

7.3

护套低温弯曲试验

GB/T 2951.14-2008

7.4

护套低温拉伸试验

GB/T 2951.14-2008

7.5

成品电缆低温冲击试验

GB/T 2951.14-2008

8

成品电缆机械强度试验

曲挠试验

JB/T 10491


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