电阻率测试上海，橡胶残余应力测试方法

电阻率测试上海，橡胶残余应力测试方法

文用x射线衍射法测定了镁合金样品的残余应力。

问题

当材料晶粒尺寸较大或纹理较多时，传统的XRD残余应力测量被推到了极限。通过使用耗时的倾斜和旋转振荡来获得给定倾斜角度的更平均的峰值数据集，可以改善结果。然而，客户需要一个更有效的解决方案来测量镁合金样品上的残余应力，具有挑战性的衍射峰结果。

测试方法

测量使用了Xstress G3残余应力分析仪和带有双探测器(Hamamatsu和Mythen)的Xstress DR45残余应力分析仪进行，DR45具有2D面探测器。在整个测量过程中使用了3毫米准直仪。在一维探测器测量中，同时使用了倾斜振荡和旋转振荡。没有它们，就无法获得衍射数据，而二维测量只需要倾斜振荡。

无振荡的一维探测器峰值数据。