故障失效模式分析，阀门水压试验
| 更新时间 2025-01-28 11:00:00 价格 100元 / 件 联系电话 13083509927 联系手机 18115771803 联系人 奚家和 立即询价 |
详细介绍
故障失效模式分析，阀门水压试验
芯片加工中的缺陷与成品率预测
芯片制造缺陷的分类：
全局缺陷：光刻对准误差、工艺参数随机起伏、线宽变化等；在成熟、可控性良好的工艺线上，可减少到极少，甚至几乎可以消除。
局域缺陷：氧化物针孔等点缺陷，不可完全消除，损失的成品率更高。
点缺陷：冗余物、丢失物、氧化物针孔、结泄漏
来源：灰尘微粒、硅片与设备的接触、化学试剂中的杂质颗粒。
2、混合集成电路的失效
混合集成电路工艺：
IC工艺：氧化、扩散、镀膜、光刻等
厚膜工艺：基板加工、制版、丝网印刷、烧结、激光调阻、分离元器件组装等
薄膜工艺：基板加工、制版、薄膜制备、光刻、电镀等
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