第三方失效分析实验室，爆破压力测试
| 更新时间 2025-01-19 11:00:00 价格 100元 / 件 联系电话 13083509927 联系手机 18115771803 联系人 奚家和 立即询价 |
详细介绍
第三方失效分析实验室，爆破压力测试
集成电路
失效模式：漏电或短路，击穿特性劣变，正向压降劣变，开路可高阻
失效机理：电迁移，热载流子效应，与时间相关的介质击穿(TDDB)，表面氧化层缺陷，绝缘层缺陷，外延层缺陷
声表面波器件
MEMS压力传感器
MEMS器件的主要失效机理：
（1）粘附----两个光滑表面相接触时，在力作用下粘附在一起的现象；
（2）蠕变----机械应力作用下原子缓慢运动的现象；变形、空洞；
（3）微粒污染----阻碍器件的机械运动；
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