失效分析中心，管路爆破试验

失效分析中心，管路爆破试验

服务内容：1.电磁操纵
2.差分错误分析
电压毛刺检测 在芯片正确执行密码运算过程中，或在芯片电源RST、CLK、 I/O引脚上注入合适深度和合适宽度的毛刺，使芯片的运行产生非预期错误，并分析这些获取到的非预期错误是否会造成芯片中敏感信息的泄露。
服务内容：1.电源操纵攻击
2.其他操纵攻击
3.差分错误分析 激光注入检测 对芯片进行开封处理后，在芯片正确执行密码运算过程中，通过显微镜定位被攻击芯片表面某一特定区域，通过示波器等观察设备定位密码算法运行的某一特定时刻，注入合适能量大小的激光脉冲，使芯片的运行产生非预期错误，并分析采集到的错误是否会造成芯片中敏感信息的泄露。
服务内容：1.光注入攻击
2.差分错误分析
侧信道检测 芯片在执行密码算法过程中会产生时间消耗、功率消耗和电磁辐射，利用密码系统实现时泄露的功耗、电磁辐射等侧信道信息，尝试推导密码系统中的密钥信息。