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pcb失效分析,氧指数测试标准

更新时间
2024-05-16 11:00:00
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详细介绍

pcb失效分析,氧指数测试标准

1、密封端面的加剧磨损。密封面之间因颗粒泄漏进入端面,起着磨料作用,加速了密封面的磨损。

  2、介质侧颗粒堵塞。由于颗粒的堆积,架桥,阻碍了弹簧、销和辅助密封圈的运动,从而导致补偿环的追随性和浮动性下降。

  3、大气侧颗粒堵塞。由于密封面内径和轴 (或轴套) 之间的间隙较小,泄漏的固体颗粒不能及时排出,易堆积、阻塞,阻碍了辅助密封圈的运动,从而导致密封失败。

  4、磨蚀。指密封元件表面由于受到磨蚀性颗粒的作用而产生的局部咬蚀、撕裂,在有颗粒介质的情况下,发生得更加严重。

  5、传动元件的磨损。由于传动销这些元件处于颗粒介质中,运动时由于颗粒的研磨作用加剧了元件本身的磨损。

在选型时,应使机械密封产品尽量避免颗粒的作用,不致产生上述失效,机械密封解决颗粒介质作用的问题有两大途径:一是对机械密封设置一些附加的内部结构或采取辅助措施 (如螺旋密封、封液、冲洗水、水箱或油箱建立液障防止颗粒堆积等) ,或者外部装置(如旋流固液分离器、磁滤器等) ,尽量避免上述5 种失效出现,使机械密封处于良好的工作状态。

  为了保证摩擦副在颗粒介质中具有耐磨损和耐磨蚀的目的,摩擦副材料的硬度必须高于磨粒的硬度。通常可选用硬对硬组对,材质可为碳化钨或碳化硅。

  根据有关资料介绍,对在磨蚀性颗粒介质中高硬度摩擦副磨损机理的研究所得出的结论,摩擦副宽度应比一般机械密封的宽,以获得较高的使用寿命。动、静环的宽度相等,有利于防止颗粒对密封端面的磨损,同时,有足够的面积,以避免大的失配。因此,能够适应比一般机械密封端面大得多的径向和轴向跳动。


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