线材阻抗测试，霍尔效应及其参数测定

线材阻抗测试，霍尔效应及其参数测定

数据线缆在Zui近两年，正面临著越来越快的讯号速度，控制传输线特性阻抗及相关差分测试正变得日益重要，目前验证测试Cable 'Connector等传输线特性阻抗的Zui常用方法是TDR方法，今天的文章是基于TDR规范，介绍TDR原理及阻抗、差分阻抗等测试方法，我们今天的课程是希望研发人员能够正确应用TDR的方法去测试分析传输线的阻抗、差分阻抗，结合讯号完整性理论，深入一步能够测试分析互连的性能，从而能够帮助我们在实际中发现和解决讯号完整性问题（啥样的信号才完整？）

信号完整性的问题

电脑、通讯系统、视频系统和网路系统等领域的数位系统开发人员正面临着越来越快的时钟频率和资料速率，随之，讯号完整性变得越来越重要。在当前的高工作速率下，影响讯号上升时间、脉宽、时序、抖动或杂讯内容的任何事物都会影响整个系统的性能和可靠性。爲保证讯号完整性，必须了解和控制讯号经过的传输环境的阻抗（高频参数基础篇04-阻抗（Impedance)）。阻抗不匹配和不连续会导致反射，增加系统杂讯和抖动，在整体上降低讯号的质量，阻抗控制是当前许多数位系统、元器件规范的一部分，如USB，Firewire(IEEE 1394)，PCI Express，Infiniban，Serial ATA，XAUI等规范。业内已经普遍使用仿真工具设计高速电路，仿真加快了设计周期，Zui大限度地减少了错误数量。但是仿真之后，必须进行工程验证来检验仿真设计，这其中就包括阻抗测量。