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金属渗透检测,金属腐蚀性能测定实验

更新时间
2025-01-28 11:00:00
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详细介绍

金属渗透检测,金属腐蚀性能测定实验

使倒装芯片和基板产生分离的小剪切力应按照计算公式(1)计算,小于其值而发生分离则视为不合格。

小剪切力=0.05N*凸点数
.............................................(1)

当有规定时,应记录造成分离时的剪切力数值,以及分离或分效的主要类别

1)焊点材料或者焊板焊接区(适用时)的失效;

2)芯片或基板的破裂(紧靠在焊点处下面的芯片或基板失掉一部分)

3)金属化层浮起(金属化层或者基板焊接区与芯片或基板分离)


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