汽车电子可靠性试验，电子连接器检测

汽车电子可靠性试验，电子连接器检测

开关同步噪音也是RAM高速并行接口可能出现的我们所不期望的一种物理现象。当IC的驱动器同时开关时，会产生瞬间变化的大电流，在经过回流途径上存在的电感时，形成交流压降，从而产生噪音噪声（称为SSN），它可能影响信号接收端的信号电平判决。这是并行总线非常恶劣的一种工作状态，对信号驱动器的高速信号转变能力、驱动能力、电源的动态响应、电源的滤波设计构成了严峻的考验。为了验证产品在这种的工作条件下工作是否可靠，必须被测设备（DUT）加上一种特殊的测试负荷，即特殊的测试报文。

举例：如果被测总线为16位宽，要使所有16跟信号线同步翻转，报文内容应该为：

FFFF 0000 FFFF 0000

如果被测总线为32位宽，要使所有32跟信号线同步翻转，测试报文内容应该为：

FFFF FFFF 0000 0000 FFFF FFFF 0000 0000

如果被测总线为64位宽，要使所有64根信号线同步翻转，测试报文内容应该为：

FFFF FFFF FFFF FFFF 0000 0000 0000 0000 FFFF FFFF FFFF FFFF 0000 0000 0000 0000

如果报文在DUT内部的业务通道同时存在上述位宽的总线，业务测试必须加载上述的报文，看DUT UUT在每种报文下工作是否正常，同时在相应总线上进行信号测试，看信号是否正常。