主板老化测试，零部件清洁度分析

主板老化测试，零部件清洁度分析

存储温度测试标准

A高温贮存试验

试验目的：检验产品在高温环境条件下贮存的适用性

试验设备：恒温恒湿试验箱

试验样品：6SETS

试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到60±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，立即进行试验后检测。

判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。

B低温贮存试验

试验目的：检验产品在低温环境条件下贮存的适用性

试验设备：恒温恒湿试验箱

试验样品：6SETS

试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到-20±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，在正常大气条件下放置2H，放置期满，被测样机进行试验后的检查。

判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。

HOT TEST 高温+60℃COLD TEST低温-20℃（-40℃ 加拿大）ONE CYCLE 一周期循环8Hours+8Hours判定标准：产品外观/结构正常，基本功能正常。