零件平行度检测方法，ct变比测试

零件平行度检测方法，ct变比测试

NDT领域，主要有工业CT检测和X射线检测两种检测方法，它们都是用X射线来检测物体内部的，那么，X射线是如何产生的？

根据科学原理，X射线是一种粒子流，它是由原子中的电子在能量差别很大的两个能级间的跃迁而形成的，它是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射。由于德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，因此也被称为伦琴射线。

伦琴射线X波长非常短，大约在0.01~100埃之间，其穿透能力非常强，能够透过许多不透明可见光的物质，如墨纸、木材等。这是一种肉眼看不到的射线，它能使许多固体物质产生可见荧光，使照相底片感光和空气离子化等效果。因此，工程师们利用X射线这一特性，开发出了各种X射线探测设备。

20世纪中叶以来，随着计算机技术的发展，X射线系统又有了新的发展方向——CT，所谓的CT，也就是三维X射线扫描，就是用非破坏性X射线透视技术，将被测物体的单个轴面的射线穿透，即三维X射线扫描，用非破坏性的X射线透视技术，将待测物体的实体图像进行计算机运算重建。可见CT能显示物体的三维结构和内部结构，相对于X射线的二维方案，已经有了质的飞跃，从技术上讲：CT断层扫描技术是对产品进行无损检测和无损评估的好方法，工业CT则采用断层成像技术，可实现产品的无损可视化、装配缺陷和材料分析。该方法不被周围特征遮挡，可以直接得到目标特征的空间位置、形状和大小信息。