转塔式半导体测试，ups老化测试

转塔式半导体测试，ups老化测试

跟随半导体产品不断推进的测试需求。测试机的价格相对昂贵，通常为数百万元， 针对不同测试对象而频繁更换测试机将带来大量资本开支。因此，目前的高端测试 机已经由自动测试设备向开放式测试平台方向发展，基于开放式系统（如 OpenStar2000等），通过搭建自定义的PXI模块，以适应日益增多的待测参数需求， 增强了测试机的灵活性和兼容性。

由于元器件设计和生产工艺的不断进步，器件性能迅速提升，产品生命周期越来越 短，相应的测试设备也必须及时升级换代，近年来国内集成电路测试需求主要包括：①模拟信号测试强调大功率、高精度、覆盖关键交流参数；②数字信号测试从中低 速向高速跨越式发展，测试通道数倍增；③混合信号测试从模拟信号测试中逐渐剥 离，追求高速、高带宽、高采样率，射频（RF）测试的需求日渐增长；④存储器测 试产品更新换代较快，需要独立的测试平台。