合肥半导体检测公司，电源老化测试

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ATE 迭代速度较慢，设备商充分享受技术沉淀成果 

ATE迭代速度较慢，主力产品生命周期长。半导体自动化测试系统不属于工艺设备， 和制程的直接相关度较低，产品迭代速度较慢，单类产品的存在时间较长，设备商 享受技术沉淀成果。市场目前主流的ATE多是在同一测试技术平台通过更换不同测 试模块来实现多种类别的测试，提高平台延展性。例如国际半导体测试机泰瑞 达的模拟及数模混合测试平台ETS-364/ETS-600由Eagle Test System于2001年推 出，目前仍在泰瑞达官网销售。爱德万的V93000机型、T2000机型分别于1999年、 2003年推出。根据爱德万官方数据，2014年V93000出货超过500台，截至2015年3 月16日累计出货4000台，2017年更是创下累计出货5000台的记录，即使在2019年 也有单笔订单超过30台的情况。

而这两款机型之所以能够维持如此好的销售成绩，是因为ATE设备仅需更换测试模 块和板卡就可实现多种类测试以及测试性能提升，而不需要更换机器。V93000在更 换AVI64模块之后将测试范围扩大到了电源市场和模拟市场，而更换PVI8板卡后不 仅可以实现大功率电压/电流的测量，并且测试速度更快，测量更，更换Wave Scale板卡后可实现高并行，多芯片同测及芯片内并行测试，大大降低了测试成本与 时间。而T2000也可以通过组合不同的模块完成对SoC器件、RF、CMOS图像、大 功率器件以及IGBT的测试。于是一款ATE设备可以在市场上存在20年之久且依然有良好的销售业绩，设备商从而可以享受技术沉淀的成果。