二极管失效测试，电泳老化测试

二极管失效测试，电泳老化测试

二极管测试仪测试，万用表读数正常的二极管的数据，如图四：

正向压降正常，所以万用表读值正常，实际上其已反向耐压失效。

③二极管测试仪测试，万用表无读数的二极管的数据，如图五：

电性呈开路状态，这种现象比较少见，一般是客户端过锡炉温度太高、或时间太长，导致二极管内部的焊锡二次融化导致开路。也有少量的是生产二极管过程中，作业人员的误操作，导致一贯机漏测试流入客户端。

从剖析的内部状况看失效模式（以下使用整流二极管的GPP芯片说明）：

1.芯片有贯穿性的电流烧蚀点，测试电性呈SHORT，如图六。

电流烧蚀点一般是，开机浪涌电流或受电网等因素产生的大电流，瞬间的热量在芯片留下熔坑，打高压和雷击失效也是此种模式；