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电子元件失效分析方法,电泳盐雾测试

更新时间
2025-01-28 11:00:00
价格
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详细介绍

电子元件失效分析方法,电泳盐雾测试

样品进行断面检测,底部存在锡少,虚焊的现象。且芯片底部焊锡与PCB焊锡未完全融合。


焊锡高度检测


引脚焊锡高度0.014mm

芯片底部焊锡高度0.106mm


说明

芯片引脚位置焊锡高度0.014mm,芯片未浮起,芯片底部高度为0.106mm,锡膏高度要大于芯片底部高度才能保证焊接完好。


SEM检测



说明

对底部焊接的位置进行SEM检测,芯片与PCB之间焊锡有缝隙,焊锡未完全融合,IMC致密性差,高度5μm左右。


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  • 销售经理:奚家和
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