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触控屏失效分析测试,铜加速中性盐雾试验

更新时间
2024-12-11 11:00:00
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详细介绍

触控屏失效分析测试,铜加速中性盐雾试验

显微形貌像技术

光学显微镜分析技术

扫描电子显微镜的二次电子像技术

电压效应的失效定位技术













6、半导体主要失效机理分析

电应力(EOD)损伤

静电放电(ESD)损伤

封装失效

引线键合失效

芯片粘接不良

金属半导体接触退化

钠离子沾污失效

氧化层针孔失效


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