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电容漏电失效分析,国标盐雾试验的费用

更新时间
2024-11-16 11:00:00
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电容漏电失效分析,国标盐雾试验的费用

失效从失效模式和失效机理一般分类为:断裂失效分(应力腐蚀、高温应力断裂、疲劳断裂等)、非断裂失效(基本为磨损失效、腐蚀失效、变形失效)、复合失效机理(多种失效机理综合作用而成导致的失效);失效分析一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等。

失效分析的意义

1、失效分析是确定芯片失效机理的必要手段。

2、失效分析为工艺不断改进或者迭代优化修复芯片的设计。

3、失效分析为有效的故障诊断提供了必要的证据支持。

4、为生产测试提供必要的环节补充,提供必要的信息基础。

失效分析流程一般是什么?


失效分析主要步骤和内容常用设备有哪些?

1、开封:去除IC封胶,同时保持芯片功能的完整无损,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受损伤,为下一步芯片失效分析实验做准备。


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