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电路板电子元件检测,高温寿命试验

更新时间
2024-11-16 11:00:00
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详细介绍

电路板电子元件检测,高温寿命试验

PIO(Programmable I/O Cell-可编程 I/O 单元): 在 ORCA FPGA 器

件内部的结构元素, 用于控制实际的输入及输出功能。 -

PLC(Programmable Logic Cell-可编程逻辑单元): 这些单元是 ORCA

FPGA 器件中的心脏部分, 他们被均匀地分配在 ORCA FPGA 器件中,

包括逻辑、 布线、 和补充逻辑互连单元(SLIC)。 -

PLD(Programmable Logic Device-可编程逻辑器件): 数字集成电

路, 能够被用户编程执行各种功能的逻辑操作。 包括: SPLDs, CPLDs

和 FPGAS。 -

Process Techonology(工艺技术): 用来将空白的硅晶片转换成包含

成百上千个芯片的硅片加工工艺。 通常按技术(如: E2CMOS) 和线宽

(如: 0. 35 微米) 分类。 -

Programmer(编程器): 通过插座实现传统 PLD 编程的独立电子设备。

莱迪思 ISP 器件不需要编程器。 -

Schematic Capture(原理图输入器): 设计输入的图形化方法。 -

SCUBA(Software Compiler for User Programmable Arrays-用户

可编程阵列综合编译器): 包含于 ORCA Foundry 内部的一种软件工

具, 用于生成 ORCA 特有的可用参数表示的诸如存储的宏单元。 -

SLIC (Supplemental Logic Interconnect Cell-补充逻辑相互连

接单元): 包含于每一个 PLC 中, 它们有类似 PLD 结构的三态、 存

储解码、 及宽逻辑功能。 -

SPLD(SPLD-简单可编程逻辑器件): 小于 1000 门的 PLD, 也称作

低密度 PLD。


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