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电子元件喷霜测试分析机构,高温强度试验

更新时间
2024-11-16 11:00:00
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详细介绍

电子元件喷霜测试分析机构,高温强度试验

配器的组成部分。 包括所有的功能。 使用方便, 节省了大量时序分析

的代价。 设计者可以通过时序分析器方便地获得任何莱迪思 ISP 器

件的引脚到引脚的时序细节。 通过一个展开清单格式方便地查看结

果。 -

ispVHDLTM: 莱迪思开发系统。 包括功能强大的 VHDL 语言和灵活的

在系统可编程。 完整的系统工具包括 Synopsys, Synplicity 和

Viewlogic, 加上 ispDS+ HDL 综合优化逻辑适配器。 -

ispVM System: 莱迪思半导体第二代器件下载工具。 是基于能够提供

多供应商的可编程支持的便携式虚拟机概念设计的。 提高了性能, 增

强了功能。 -

JEDEC file(JEDEC 文件): 用于对 ispLSI 器件编程的工业标准模

式信息。 -

JTAG(Joint Test Action Group-联合测试行动组): 一系列在主板

加工过程中的对主板和芯片级进行功能验证的标准。 -

Logic(逻辑): 集成电路的三个基本组成部分之一: 微处理器内存和

逻辑。 逻辑是用来进行数据操作和控制功能的。 -

Low Density PLD(低密度可编程逻辑器件): 小于 1000 门的 PLD,

也称作 SPLD。 -

LUT (Look-Up Table-查找表): 一种在 PFU 中的器件结构元素,

用于组合逻辑和存储。 基本上是静态存储器(SRAM) 单元。 -

Macrocell(宏单元): 逻辑单元组, 包括基本的产品逻辑和附加的功

能: 如存储单元、 通路控制、 极性和反馈路径。


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