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电子器件检验标准,高温试验中心

更新时间
2025-01-19 11:00:00
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详细介绍

电子器件检验标准,高温试验中心

阵列(FPGA) 中的 RAM 单元, 可配置成 RAM、 只读存储器(ROM)、

先入先出(FIFO)、 内容地址存储器(CAM) 等。 -

EDA(Electronic Design Automation-电子设计自动化): 即通常所

谓的电子线路辅助设计软件。 -

EPIC (Editor for Programmable Integrated Circuit-可编程集

成电路编辑器): 一种包含在 ORCA Foundry 中的低级别的图型编辑

器, 可用于 ORCA 设计中比特级的编辑。 -

Explore Tool(探索工具): 莱迪思的新创造, 包括 ispDS+HDL 综合

优化逻辑适配器。 探索工具为用户提供了一个简单的图形化界面进行

编译器的综合控制。 设计者只需要简单地点击鼠标, 就可以管理编译

器的设置, 执行一个设计中的类似于多批处理的编译。 -

Fmax: 信号的*高频率。 芯片在每秒内产生逻辑功能的*多次数。 -

FAE(Field Application Engineer-现场应用工程师): 在现场为客

户提供技术支持的工程师。 -

Fabless: 能够设计, 销售, 通过与硅片制造商联合以转包的方式实

现硅片加工的一类半导体公司。 -

Fitter(适配器): 在将一个设计放置到目标可编程器件之前, 用来

优化和分割一个逻辑设计的软件。 -

Foundry: 硅片生产线, 也称为 fab。 FPGA(Field Programmable Gate

Array-现场可编程门阵列): 高密度 PLD 包括通过分布式可编程阵

列开关连接的小逻辑单元。 这种结构在性能和功能容量上会产生统计

变化结果, 但是可提供高寄存器数。 可编程性是通过典型的易失的

SRAM 或反熔丝工艺一次可编程提供的。 -


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