电子器件检验标准,高温试验中心
| 更新时间 2025-01-19 11:00:00 价格 100元 / 件 联系电话 13083509927 联系手机 18115771803 联系人 奚家和 立即询价 |
电子器件检验标准,高温试验中心
阵列(FPGA) 中的 RAM 单元, 可配置成 RAM、 只读存储器(ROM)、
先入先出(FIFO)、 内容地址存储器(CAM) 等。 -
EDA(Electronic Design Automation-电子设计自动化): 即通常所
谓的电子线路辅助设计软件。 -
EPIC (Editor for Programmable Integrated Circuit-可编程集
成电路编辑器): 一种包含在 ORCA Foundry 中的低级别的图型编辑
器, 可用于 ORCA 设计中比特级的编辑。 -
Explore Tool(探索工具): 莱迪思的新创造, 包括 ispDS+HDL 综合
优化逻辑适配器。 探索工具为用户提供了一个简单的图形化界面进行
编译器的综合控制。 设计者只需要简单地点击鼠标, 就可以管理编译
器的设置, 执行一个设计中的类似于多批处理的编译。 -
Fmax: 信号的*高频率。 芯片在每秒内产生逻辑功能的*多次数。 -
FAE(Field Application Engineer-现场应用工程师): 在现场为客
户提供技术支持的工程师。 -
Fabless: 能够设计, 销售, 通过与硅片制造商联合以转包的方式实
现硅片加工的一类半导体公司。 -
Fitter(适配器): 在将一个设计放置到目标可编程器件之前, 用来
优化和分割一个逻辑设计的软件。 -
Foundry: 硅片生产线, 也称为 fab。 FPGA(Field Programmable Gate
Array-现场可编程门阵列): 高密度 PLD 包括通过分布式可编程阵
列开关连接的小逻辑单元。 这种结构在性能和功能容量上会产生统计
变化结果, 但是可提供高寄存器数。 可编程性是通过典型的易失的
SRAM 或反熔丝工艺一次可编程提供的。 -