pc塑料原料老化测试，杭州塑料检测

pc塑料原料老化测试，杭州塑料检测

以目前 CSP 封装应用较多的消费类芯片手机音频功放为例， 作详细说明以便大家理解，

其功能框图如下：

在此针对接触电阻稍作说明： 在实际生产测试中， 探针的接触电阻在很大程度上取决于

PAD 的材料、 清洗的次数、 以及

探针的状况。 就探针而言， 目前主要有钨针和钨铼针两种， 其中钨铼合金的探针接触电

阻比钨稍高， 抗疲劳性相似。 但是，

由于钨铼合金的晶格结构比钨更加紧密， 其探针顶端的______________平面更加光滑。

因此， 这些探针顶端被污染的可能性更小， 更容易清

洁， 其接触电阻也比钨更加稳定。 所以一般的探针材料均选用钨铼合金。 另外影响接触

电阻的关键参数为触点压力， 触点压

侧面起皱 在 PC 薄膜内住入塑料时， 由于薄膜受力不均匀在产品上造成皱纹。

漏 光 在 PC 薄膜上有漏印的部位， 造成光线能从背面穿到正面称为漏光。

间 隙 部件之间由于公差等原因造成配合不紧而产生的缝隙。

段 差 上下部件之间本应在同一平面或曲面之内光滑连接， 但由于生产制造过程

中的误差使其产生前或后不同面。

3. 2 表面等级划分、 定义和标准

3. 2. 1 表面等级划分

根据表面设计需要， 将表面的外观接受性划分为 0、 Ⅰ 、 Ⅱ 、 Ⅲ或Ⅳ级。

3. 2. 2 表面分级标准（如图一）

多个缺陷在同一个表面上时， 把每个缺陷的显现水平加在一起， 不能超过该表面

要求的缺陷的水平。

0： 仅包括显示区域， 如镜片的透明区和 LCD 的透明区。

Ⅰ ： 暴露在外， 但是正常使用时或关机时可直接看到的主要表面， 如镜片的非信

息显示区， 键盘前壳、 后壳、 电池盖的正面、 翻盖（及大翻盖） 的正反两面。

Ⅱ： 暴露在外， 但是正常使用时并不直接看到的次要表面几手机配件的外表面，

如前壳、 后壳、 电池盖的正面、 翻盖（及大翻盖） 的侧面， 极其它手机配件如充电器、 耳机

等的外观面。

Ⅲ： 在正常使用时不能看到的表面， 只有在装卸电池可看到的内表面， 如后壳上被电

池盖住的面或电池的内表面。

Ⅳ： 只有在拆卸手机时才能看到的零件表面。

3. 3 缺陷代码对照表

代码 名称 代码 名称

N 数目 D 直径(mm)

L 长度(mm) H 深度(mm)

W 宽度(mm) DS 距离(mm)

S 面积(mm)

4 检查条件

4. 1 距离： 肉眼与被检查物表面的距离一尺（33mm） 左右；

4. 2 时间： 在 12 秒钟能能确认缺陷；

4. 3 角度： 视线与被检查物表面角度在 45 度到 90 度范围内旋转；

4. 4 照明： 100W 冷白荧光灯， 光源距被测物表面 500~550mm（照度达 500~550LUX） 。

4. 5 环境：

4. 5. 1 温度： 25±2 ° C

4. 5. 2 湿度: ： 65%±20%

5 抽样计划

5. 1 抽样标准：

5. 1. 1 OQC 外观检验：

采用 GB2828-87、 一次抽样正常检验方案、 一般检验水平Ⅱ ， 合格质量水平

AQL 如下：

A． 严重(Critical) =0. 015

B． 重要(Major) =0. 40

C． 次要(Minor) =1. 0

若批不合格， 则判退或根据实际情况进行全检。

5. 1. 2 可靠性测试：

采用 GB2828-87、 一次抽样正常检验方案、 特殊检查水平 S-3， 合格质量

水平 AQL=0. 1， 若批不合格， 则判退。

5. 1. 3 尺寸检验， 参照图面重要尺寸测量 3PCS 为基准。 0 收 1 褪。

6 产品不良时的处理方法：

6. 1 IQC 人员在检验或抽检时， 所发现之缺点应反应给主管。

6. 2 IQC 人员于下列情况下得提出停止进料要求， 待问题解决后始的继续生产：

a: 连续十批进料 IQC 检查合格， 但 QA 检核时， 仍有缺点发现时。

b 供货商连续进料十个批量， 均未能达到抽验标准且仍须做全检时。