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dsc测试熔点,绝缘电阻测定实验
发布时间: 2024-08-29 07:30 更新时间: 2024-11-22 11:00

dsc测试熔点,绝缘电阻测定实验

一个测量结果显示为阻抗(Z)和相位(θ),那么被测器件的主要参数(R、C、L) 和其它所有寄生参数所表现出来的综合特性就体现在|Z|和θ的数值的大小上。

如果要想显示一个被测器件除阻抗和相角以外的其它参数,可以使用它的二元模型等效电路,如图3-1所示。在区分这些基于串联或并联电路模式的二元模型时,我们用脚注“p”代表并联模型,用“s”代表串联模型,例如Rp、Rs、Cp、Cs、Lp或Ls。

在现实世界中没有器件是纯粹的的电阻、纯粹的电容、纯粹的电感。任何常用的器件通常都会有一些寄生参数(例如由器件的引脚、材料等引起的寄生电阻、寄生电感和寄生电容)存在,表现器件主要特性的部分和寄生参数部分结合在一起会使一个简单的器件在实际工作中表现得就像一个复杂的电路一样。

现在的阻抗分析仪都带有等效电路分析的功能,可以用三元或四元电路模型的形式对测量结果进行进一步的分析。


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