介电常数测试标准，表面残余应力检测

对GB/T 7704-2008进行了较大的修改与完善。在保证与一致的前提下，使之更适合我国试验室现状。

目前新版GB/T 7704-20xx新标准已经修订完毕，新修订的GB/T 7704中增加了大量术语和定义(三维应力、设备、方法相关)，使得过去一些含糊不清的描述表达变得规范化。为了使标准的应用更为广泛，新国标中增加了三维残余应力的理论计算方法以及具体测定流程。

根据衍射装置的几何布置不同，GB/T 7704-20xx新标准中将应力测定方法分为7类，分别是：同倾固定ψ0法(ω法)、同倾固定ψ法(θ-2θ扫描法)、侧倾法(χ法)、双线阵探测器ω法、双线阵探测器侧倾法(修正χ法)、侧倾固定ψ法(θ-θ扫描ψ法)、粗晶材料摆动法。不同方法的衍射仪的原理和结构如图2-图6所示。