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金属线膨胀系数测量,导热材料导热测试
发布时间: 2024-08-20 06:25 更新时间: 2025-01-19 11:00
金属线膨胀系数测量,导热材料导热测试
随着微电子技术的发展,电子芯片不断的趋向于小型化、集成化,热量通常被认为是电子系统前进发展的限制性因素,在电子设备热设计领域,热量的积累,温度上升过高对器件的寿命和可靠性都会产生非常不利的影响。
有研究表明,当工作环境为70℃~80℃时,工作温度每提高1℃,芯片的可靠性将下降5%。因此,对于界面热传导的研究就变得尤为重要。
在各种功率电子器件中,电子器件产生的热量由内而外的传递需要经过数层接触面,不同材料相互接触时会产生界面,界面对热流有阻碍作用, 而界面热阻的概念亦即运用于此。
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