热膨胀系数试验，检测熔点测定

由于EP在这些异常点附近发生了次级转变，造成线膨胀系数产生了突变。

我们采用DMA测试对线膨胀测试结果进行辅助验证，由于测试条件限制，低测试温度为-100 ℃。在75 ℃和60 ℃附近观察到TDE-85 和E-51的损耗因子峰，在此温度附近EP发生玻璃化转变，反映了EP中无定型部分的大分子链段由自由运动到冻结的转变。

在更低的温度下观察到更加平坦但覆盖很宽温度范围的损耗因子峰，说明EP在更低温度下发生了β转变， 此时外界能量已经不足以使更小的结构单元发生运动，部分侧链、小单元开始发生冻结，因此表现出线膨胀系数异常增高的现象。