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x射线残余应力检测方法,薄膜电阻测试
发布时间: 2024-08-11 11:35 更新时间: 2024-11-10 11:00

x射线残余应力检测方法,薄膜电阻测试

应变分辨率:0.1με

12、应变片灵敏度可设置

13、泊松比、释放系数等可设定

14、应变测量误差:≤0.01%×测量值 ± 0.2με

15、温漂:±0.15με/℃ typ

16、时漂:≤0.1με/4h

17、应变检测非线性:≤0.002%

18、可长导线补偿

19、适用应变片阻值:120Ω±2%、350Ω±2%、1000Ω±2%

20、不仅可以克服应变片处的温差影响,更可克服应变仪处的温差影响,也可适用于温差较大、气温极为恶劣的环境

21、采用单色液晶屏及专用人性化机壳,使用起来直观、方便

22、采用下拉式菜单界面,各选项及工件材料参数的输入或查询极为方便


联系方式

  • 电  话:13083509927
  • 销售经理:奚家和
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