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x射线残余应力检测方法,薄膜电阻测试
发布时间: 2024-08-11 11:35 更新时间: 2024-11-26 11:00
x射线残余应力检测方法,薄膜电阻测试
应变分辨率:0.1με
12、应变片灵敏度可设置
13、泊松比、释放系数等可设定
14、应变测量误差:≤0.01%×测量值 ± 0.2με
15、温漂:±0.15με/℃ typ
16、时漂:≤0.1με/4h
17、应变检测非线性:≤0.002%
18、可长导线补偿
19、适用应变片阻值:120Ω±2%、350Ω±2%、1000Ω±2%
20、不仅可以克服应变片处的温差影响,更可克服应变仪处的温差影响,也可适用于温差较大、气温极为恶劣的环境
21、采用单色液晶屏及专用人性化机壳,使用起来直观、方便
22、采用下拉式菜单界面,各选项及工件材料参数的输入或查询极为方便
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