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眼镜折射率检测,电阻抗测量
发布时间: 2024-07-04 07:00 更新时间: 2025-01-20 11:00
眼镜折射率检测,电阻抗测量
规定的试样长度及尺寸;芯棒直径,卷绕圈数,绕速,(低温或老化)温度及时间;直接判断试样有无裂痕或做耐电压测试来判定。
低温/热卷绕试验
规定的试样长度及尺寸;处置温度及时间;芯棒直径,卷绕方式,卷绕圈数;直接判断试样有无裂痕或做耐电压测试来判定。
冷弯试验
低温温度及时间,绕速及圈数。
弯曲试验
弯曲半径,负重,摆角,摆动速度。
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