熔点测试报告，聚丙烯透光率分析检测

二者的关系是：方阻=体电阻率/薄膜厚度 ，即Rs =ρ/t

为什么要测方块电阻？

测量薄膜的电阻需要jingque知道薄膜的几何尺寸（长度、宽度、厚度），变量很多，对于非常薄或不规则形状的薄膜，十分复杂。而方阻仅与薄膜的厚度有关，可以快速地被直接测试出来，无需复杂的尺寸计算。

哪些薄膜需要测方块电阻？

一般导电薄膜，半导体薄膜需要测方阻，而绝缘薄膜则不需要测。

在半导体掺杂中，也会测硅的方阻。

测量方块电阻的方法？

业内一般采用四探针法。四探针法可测量方阻电阻范围从1E-3到1E+9Ω/sq之间的方阻。四探针法可以避免由于探头和样品之间的接触电阻而产生的测量误差。