交流内阻测试，介电强度测量

通过测量介电损耗角的切线值，可以反映一系列绝缘缺陷，如绝缘受潮、质量变化差或瓷砖间隙放电。测量电介质的tanδ值便于定量分析绝缘材料的损耗特性，有利于绝缘材料的分析、研究和结构设计。材料的tanδ较大，表明电介质在运行过程中损耗较大，容易发热和老化。例如，胶纸电容式套管具有很高的机械强度，并且尺寸较低，可以做得很短，但往往由于胶水质量不理想，tanδ相对较大，因此很难在超高压系统中使用。蓖麻油可用于直流或脉冲电容器，但由于其tanδ大，不能用于交流电容器。用于冲击测量的连接电缆要求其tanδ必须非常小，否则，当冲击波在电缆中传播时，波形将严重失真并影响测量精度。

但是对于集中缺陷，如果它们占据的体积很小，那么集中缺陷处的介电损耗将占绝缘体总介电损耗的一小部分，此时tanδ法的效果会很差。因此，必须测试套管或变压器的介电损耗因数，但对于电机电缆等设备则不是必需的。在通过tanδ值判断绝缘条件时，必须与设备多年来的tanδ值进行比较，并与相同运行条件下的其他设备进行比较。即使tanδ没有超过标准值，当tanδ在相同操作条件下与过去和其他设备相比突然显着增加时，也必须进行处理。