公司新闻
半导体的电阻率测试，三元材料磁性物质测试方法
发布时间： 2024-05-20 07:49 更新时间： 2024-11-21 11:00
半导体的电阻率测试，三元材料磁性物质测试方法
FE系列磁通计采用高精密低漂移的电子积分器件进行设计和生产，在使用提拉法测试样品测磁通的过程中，本磁通计能快拉、慢拉法的数据保持高度吻合，能够重复测量和回复测试。FE-201磁通计具有峰值锁定、自动判断极性等功能，操作简单，步骤简洁。FE-210B高精度磁通计测试精度更高（量程更大），并且测量响应，在测量过程中不会丢失数据，测试精度高，漂移小。
应用领域：
采用提拉线圈测试永磁体的磁通
采用亥姆霍兹线圈测量永磁体的磁矩
采用闭路工装测试电机转子、定子整体磁通量
其他新闻
- 电阻测试标准，磁性能检测机构 2024-11-21
- 表面电阻检测单位，铁磁材料检测 2024-11-21
- 表面电阻试验，石墨磁性物质检测 2024-11-21
- 半导体电阻率测试，软磁材料检测 2024-11-21
- 表面绝缘电阻试验，金属材料磁性测试 2024-11-21
- 膜表面电阻检测，金属材料磁性能检测机构 2024-11-21
- 漆表面电阻检测，磁性物质检测 2024-11-21
- 体积电阻率的测试，永磁材料检测 2024-11-21
- pa表面电阻检测，磁性物质含量检测 2024-11-21
- 表面接触电阻测量，磁性材料检验 2024-11-21
- 电阻测试国家标准，三元材料磁性物质测试 2024-11-21
- 绝缘电阻率测试，永磁材料测量 2024-11-21
- 表面静电阻抗测试标准，软磁材料测试 2024-11-21
- 塑料表面电阻检测，软磁材料测试机构 2024-11-21
- 表面阻抗测量，磁铁材质检测 2024-11-21
