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膜电阻率测试，高温泊松比测试
发布时间： 2024-05-11 07:23 更新时间： 2025-01-19 11:00
膜电阻率测试，高温泊松比测试
下列数据在以下条件下测得：
温度条件：23℃±5℃湿度条件：≤80% R.H.零值调整：测试前清零
预热时间：>60 分钟校准时间：1 年
为了满足不同用户的要求，KD5015系列有2个型号可供选择。
产品型号 | KD5015 | KD5017 |
测试参数 | 绝缘电阻（IR）、微电流（I） | 绝缘电阻（IR）、微电流（I） |
测量范围 | 电阻：10KΩ-1PΩ 电流：1mA~0.001pA | 电阻：10KΩ-100PΩ 电流：1mA~0.001pA |
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