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阻抗测试,铁磁质动态磁滞回线的测试
发布时间: 2024-03-12 07:21 更新时间: 2024-11-23 11:00
阻抗测试,铁磁质动态磁滞回线的测试
脑、通讯系统、视频系统和网路系统等领域的数位系统开发人员正面临着越来越快的时钟频率和资料速率,随之,讯号完整性变得越来越重要。在当前的高工作速率下,影响讯号上升时间、脉宽、时序、抖动或杂讯内容的任何事物都会影响整个系统的性能和可靠性。爲保证讯号完整性,必须了解和控制讯号经过的传输环境的阻抗()。阻抗不匹配和不连续会导致反射,增加系统杂讯和抖动,在整体上降低讯号的质量,阻抗控制是当前许多数位系统、元器件规范的一部分,如USB,Firewire(IEEE 1394),PCI Express,Infiniban,Serial ATA,XAUI等规范。业内已经普遍使用仿真工具设计高速电路,仿真加快了设计周期,Zui大限度地减少了错误数量。但是仿真之后,必须进行工程验证来检验仿真设计,这其中就包括阻抗测量。
测试Cable、Connector等互连环境的特性阻抗()的,Zui常用的方法是使用时域反射仪TDR。TDR规范由 IPC・org制订,
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