绝缘阻抗测试方法，残余应力测量
在纳米级厚度范围内进行jingque的热扩散系数/导热系数测量，薄膜厚度从数十微米低至纳米级范围。
基本原理
超快速激光闪射法（RF 模式）
后部加热 / 前部探测
可测试热扩散系数与界面热阻
纳米级薄层与薄膜的热透过时间极短，传统的激光闪射法（LFA）使用红外测温，采样频率相对较低，已不足以有效地捕捉纳米级薄膜的传热过程。超快速激光闪射法可以克服经典的激光闪射法局限，其典型模式为后部加热/前部探测方法。
这一方式的测量结构与传统的 LFA 方法相同：样品置于透明基体之上，加热激光照射样品的下表面，探测激光检测样品上表面的传热温升过程。使用探测激光按一定采样频率对检测面进行照射，可获取检测面的温度上升曲线， 从而可得到热扩散系数（如下图所示）。
