半导体热测试，顺丁橡胶高低温冲击实验

Simcenter T3STER:半导体热特性热测试仪

T3STER：热瞬态测试仪，是半导体热特性热测试仪器，可用于测试半导体分立器件及模块的结温、稳态热阻、瞬态热阻，同时可用于测试IC、SoC、SIP、散热器、热管等的热特性。T3STER兼具JESD51-1定义的静态测试法（Static Mode）与动态测试法（Dynamic Mode），能够实时采集器件瞬态温度响应曲线（包括升温曲线与降温曲线），瞬态采样时间分辨率高达1微秒，测试延迟时间高达1微秒，结温分辨率高达0.006℃。

# Simcenter T3Ster典型应用：利用T3Ster研究MOSFET器件