可见反射率测试，熔点测定的实验

FTPs技术已被应用于测量不同类型的半导体材料，如FTPs对微晶硅的广泛研究：2006年斯库拉蒂-梅劳德，2009年PoRuba等人研究了硅薄膜。

在FTPs中，光电流在测量过程中自动保持恒定，恒定的光电流是由于FTIR光照亮半导体样品的通量强度不变，因此得到了在等式中半导体样品中产生光电流的公式（方程8）仍然是有效的。

由于我们开发了一种光电流测量技术，使用FTIR光谱仪来测量透射率和反射率，在FTPs测量中，我们用半导体样品取代了光电二极管。