无锡万博检测科技有限公司
主营产品: 国军标测试、gjb150可靠性检测、检测环境可靠性测试、汽车电子产品检测
d8反射率测试,树脂熔点测试
发布时间:2024-11-09

d8反射率测试,树脂熔点测试

利用FTIR光谱仪测量半导体材料的吸收系数

当具有两个共面电极的半导体被连续偏置电压偏振,并且暴露于具有图8所示的连续通量强度的单色光时,对于给定的深度x,光电流的产生可以描述为:

方程1

其中,E为电极之间施加的电场,l为电极的长度,σph为光导率,可以描述为:

方程2

其中q是电子电荷的值,μn和μp分别是电子和空穴的迁移率。在光的作用下产生的过剩电子和空穴被描述为Δn和Δp。


展开全文
拨打电话 微信咨询 发送询价