绝缘电阻测定实验，漆反射率测试

LCR测试仪的代表性测量方法如图所示，为自平衡电桥法。其原理如下。
DUT为Device Under Test的缩写，指测量对象。高增益放大器会自动调整增益，使通过电阻R的电流与通过DUT的电流相等，DUT 的低电位侧(图中L一侧)一直处于虚拟接地(电位=0)状态。此时的输入电压E1及输出电压E2能测出相位角，如下所示：
E1＝|E1|∠θ1＝|E1|cosθ1+j|E1|sinθ1E2＝|E2|∠θ2＝|E2|cosθ2+j|E2|sinθ2
通过这些数据与反馈电阻R，求出DUT的阻抗Zx。Zx＝R･E1/E2＝R・|E1/E2|・{cos(θ1-θ2)+jsin(θ1-θ2)}
其实部为Rx、虚部为Xx，求得的Xx通过Xx=j/ωCx可以计算出DUT的静电容量Cx。

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注意事项

在对陶瓷电容器的静电容量进行测量时，必须在规格书等相关资料上记载的正确测量条件下进行。需要注意的是由于电容标称值等的不同其条件也有所区别。这里所说的条件，主要是指测量前的热处理、测量电压、测量频率数。