磁性物质含量测试,薄膜电容测试
发布时间:2025-01-19
磁性物质含量测试,薄膜电容测试
串联电阻测试,绝缘电阻测试;
3.拉力测试,即引线与芯片焊接的牢固度;
4.正负温度变化率测试,即-40度到+60度状况下,电容的变化率;
5.老化测试,电容在模拟工作环境状态下运作30~60天,测试其衰减其各项参数的变化;
6.寿命测试,即在老化测试的基础上,再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试,得到的充放电次数就是充放电寿命,注意,这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的。
7.局放测试,即局部放电测试;
当然,在这些测试过程中,我们可以得出各种参数,如额定电压,穿击电压,过电流,工作频率,绝缘电阻等。每一种电容在研发与生产配料再次生产时,都要重新进行测试,才能准确判断产品是否合格。
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