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粉末电阻率检测,盲孔法测残余应力
发布时间:2024-06-16

粉末电阻率检测,盲孔法测残余应力

现行标准GB/T 7704-2008显然不够完善,在测定原理、方法、仪器选择和数据处理等多方面都存在有待改进的地方。在新修订标准GB/T 7704-20xx中,主要参考欧盟新标准EN 15305-2008以及其他相关文献,对GB/T 7704-2008进行了较大的修改与完善。在保证与一致的前提下,使之更适合我国试验室现状。

目前新版GB/T 7704-20xx新标准已经修订完毕,新修订的GB/T 7704中增加了大量术语和定义(三维应力、设备、方法相关),使得过去一些含糊不清的描述表达变得规范化。为了使标准的应用更为广泛,新国标中增加了三维残余应力的理论计算方法以及具体测定流程。

根据衍射装置的几何布置不同,GB/T 7704-20xx新标准中将应力测定方法分为7类,分别是:同倾固定ψ0法(ω法)、同倾固定ψ法(θ-2θ扫描法)、侧倾法(χ法)、双线阵探测器ω法、双线阵探测器侧倾法(修正χ法)、侧倾固定ψ法(θ-θ扫描ψ法)、粗晶材料摆动法。不同方法的衍射仪的原理和结构如图2-图6所示。


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