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尼龙电阻率检测,薄膜残余应力测试
发布时间:2024-06-25

尼龙电阻率检测,薄膜残余应力测试

K 为弹性常数,当入射线的波长选定之后(λ 一定),通过测定衍射角θ,即可由布拉格方程得到受力之后的晶面间距,继而得到相应的残余应力值。这里需要指出的是由于晶体是各向异性的,因此弹性常数K 和宏观意义上的弹性模量E 是不同的,需要根据所选择的衍射晶面来计算出弹性常数K。

1961 年德国学者Macherauch 结合弹性理论和布拉格方程提出了测二维残余应力的sin2ψ法:

根据ψ平面与测角仪2θ扫描平面的几何关系,分为同倾法与侧倾法两种测试方式,检测工件表面应力。

2、标准

依据X射线衍射法的原理,欧盟、美国材料协会等组织机构都制定了相关标准,例如ASTM E2860-2012《Standard Test Method for Residual Stress Measurement by X-ray Diffraction for Bearing Steels》,EN 15305-2008《Non-destrutive Testing-Test Method for Residual Stress Analysis by X-ray Diffraction》,ASTM E1426-2014《Standard Test Method for Determining the X-ray Elastic Constants for Use in the Measurement of Residual Stress Using X-ray Diffraction Techniques》等。


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