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膜电阻率测试,高温泊松比测试
发布时间:2024-11-22

膜电阻率测试,高温泊松比测试

下列数据在以下条件下测得:

温度条件:23℃±5℃湿度条件:≤80% R.H.零值调整:测试前清零

预热时间:>60 分钟校准时间:1 年


为了满足不同用户的要求,KD5015系列有2个型号可供选择。


产品型号

KD5015

KD5017

测试参数

绝缘电阻(IR)、微电流(I)

绝缘电阻(IR)、微电流(I)

测量范围

电阻:10KΩ-1PΩ

电流:1mA~0.001pA

电阻:10KΩ-100PΩ

电流:1mA~0.001pA


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