膜电阻率测试,高温泊松比测试
发布时间:2024-11-22
膜电阻率测试,高温泊松比测试
下列数据在以下条件下测得:
温度条件:23℃±5℃湿度条件:≤80% R.H.零值调整:测试前清零
预热时间:>60 分钟校准时间:1 年
为了满足不同用户的要求,KD5015系列有2个型号可供选择。
产品型号 | KD5015 | KD5017 |
测试参数 | 绝缘电阻(IR)、微电流(I) | 绝缘电阻(IR)、微电流(I) |
测量范围 | 电阻:10KΩ-1PΩ 电流:1mA~0.001pA | 电阻:10KΩ-100PΩ 电流:1mA~0.001pA |
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