高分子材料质量检测中心，xps元素含量分析

能谱仪与波谱仪相比的优缺点：

波谱仪用布拉格方程2dsinθ=λ从样品中激发X射线经过合适的晶体分光后，不同波长的特性X射线会具有不同衍射角2θ。波谱仪为微区成分分析提供了一种强有力的手段。波谱仪波长分辨率较高，但因X射线利用率较低而限制了其应用。

能谱仪就是利用X光量子能量的差异进行元素分析，对某一种元素X光量子由主量子数n1层跃移至主量子数n2层时，具有一定的能量ΔE=En1-En2。能谱仪分辨率较高，分析速度较快，但是分辨本领较差，常出现谱线重叠的情况，且对低含量元素的分析精度很低。

(1) 能谱仪探测X射线的效率高。

(2) 能谱仪的结构比波谱仪简单，没有机械传动部分，因此稳定性和重复性都很好。

(3) 能谱仪不必聚焦，因此对样品表面没有特殊要求。

但是能谱仪的分辨率比波谱仪低；能谱仪的探头必须保持在低温状态，因此必须时时用液氮冷却。

扫描电镜应用实例

1、观测材料界面形貌：高分子表面物理形貌及化学结构是材料性能根本的决定因素，同时对其摩擦性能，光学性能，吸水性及生物相容性有重大影响。

高分子材料脆性断面表面的断裂源，镜面区（1）、雾状区（2）和粗糙区（3）

2、聚合物增韧机理在增韧研究方面应用：高分子聚合物断裂通常有脆性断裂与韧性断裂两种。脆性断裂截面比较平滑，韧性断裂截面比较粗糙，聚合物增韧是使聚合物断裂模式从脆性断裂向韧性断裂过渡，使得聚合物受拉伸后断裂伸长率大，受冲击后不容易损坏。