国家高分子检测中心，电感耦合等离子分析

应用于高分子材料天然及人工合成高聚物广泛存在着小角X射线散射，且具有多种不同性质。小角X射线散射用于高分子，其研究内容如下：

①通过Guinier散射测定高分子胶中胶粒的形状、粒度以及粒度分布等；

②通过Guinier散射研究结晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微区（包括分散相和连续相）、高分子中的空洞和裂纹形状、尺寸及分布等；

③采用长周期测定方法，对高分子体系片晶取向，厚度，结晶百分数和非晶层厚度进行了研究；

④高分子体系中的分子运动和相变；

⑤通过Porod－Debye相关函数法研究高分子多相体系的相关长度、界面层厚度和总表面积等；

⑥通过强度的测量，测定高分子的分子量。

小角X射线散射研究PAN基碳纤**体微结构：

经过2500°C碳化处理的PAN基碳纤维的试样的试样呈现典型的微孔-石墨两相结构，微孔有明锐界面，石墨基体结构均匀，没有微密度起伏；经1340°C炭化后PAN基碳纤维表现出与Porod规律正向背离，说明碳纤维中除了微孔之外，乱层石墨基体中还出现了小于1nm的微小微密度不均匀区域。