回路阻抗测试方法,bet孔径孔隙率检测分析
回路阻抗测试方法,bet孔径孔隙率检测分析
BET测试理论是根据希朗诺尔、埃米特和泰勒三人提出的多分子层吸附模型,并推导出单层吸附量Vm与多层吸附量V间的关系方程,即的BET方程。。
仪器型号:TriStar II 3020
仪器技术参数
孔隙度:3.5~5000A
孔径:2nm~200nm
比表面:0.1~3500m2/g
测量重复精度:≤±3%
送样要求及注意事项
固体。200~1000mg于塑料离心管中。
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BET测试理论是根据希朗诺尔、埃米特和泰勒三人提出的多分子层吸附模型,并推导出单层吸附量Vm与多层吸附量V间的关系方程,即的BET方程。。
仪器型号:TriStar II 3020
仪器技术参数
孔隙度:3.5~5000A
孔径:2nm~200nm
比表面:0.1~3500m2/g
测量重复精度:≤±3%
送样要求及注意事项
固体。200~1000mg于塑料离心管中。