反射比检测,粘结剂粉末电导率检测
反射比检测,粘结剂粉末电导率检测
STAGE 反射探头支架适用于 150 nm 的光学介质层或其他材料反射率的测量,可配置直 径 6.35 mm 的光纤探头或其他采样光学器件一起使用。探头到样品的高度调节范围约为 60 mm。使用 STAGE 反射探头支架时,需注意以下两点:
1. 在基板上放置样品时,以不同直径的同心圆为参照。
2. 适配探头规格:直径 6.35 mm (1/4″)。
3. 下图中的规格只能测量 0°入射时的反射率。
STAGE 反射探头支架规格▼
工程规格 | STAGE |
基板直径: | 152.4 mm |
置样区域直径: | 101.6 mm |
重量: | 620 g |
高度: | 滑杆高度可调至 63.5 mm |
展开全文
相关产品