介电损耗测试，电机绝缘电阻测试

x射线衍射技术提供了可靠的数据,为质量控制评估是无与伦比的。 这种技术适用于所有的晶体材料包括陶瓷。

x射线衍射的方法使测量压力不需要校准的轻样本。 残余应力测量结果给出MPa值。

中子衍射(ND)提供完整的残余应力张量,σ11(平行于表面),σ22(平行于表面)和σ33(正常的表面),分析厚组件。 也如XRD、ND措施使用布喇格定律的弹性应变和胡克定律计算应力与弹性模量(E)和泊松比(v)中子衍射的残余应力测量不广泛使用,容易由于昂贵的固定为中子衍射仪的一代。

同步加速器x射线衍射的衍射是一种更高的能源版本。 组件可以使用同步加速器衍射与复杂的几何图形,但通常组件的大小是有限的。 只有少量的全球同步加速器设施使不实用和具有成本效益的方法。