测试介电损耗，极片电阻测量

有许多方法来测量残余应力。 通常方法归纳为非破坏性、semi-destructive和破坏性或diffraction-based,应变理论,和其他方法。 所有的残余应力测量方法是间接的。 残余应力计算或者来自一个被测量,如弹性应变或位移。

diffraction-based方法,使用布拉格定律的弹性应变测量和计算的压力是用胡克定律与弹性模量(E)和泊松比(v)。

x射线衍射方法

x射线高能源和短的可见光波长相比,使它们适合探测平面的距离(=残余应力)的晶体材料。