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低温拉伸性能测试,测磁滞回线的方法

低温拉伸性能测试,测磁滞回线的方法

对于DC测量,次级线圈产生的感应磁场:

,A是圆环的横截面积,磁通量Φ通过磁通计读取。

对于AC测量,感应磁场B通过次级线圈的感应电压V(t)对时间的积分获得。大可测量至1MHZ甚至更高

A 为样品的横截面积。

符合的:IEC60404-2/ IEC60404-4/ IEC60404-6/ASTM A773

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原理图

标准配置:

 电机柜,包括1台数字磁通计、1台函数发生器、1台功率放大器、1台数字示波器

 环状测试工具

 电脑和打印机

 Soft2009软件

 Fe-Si标准样品

测试类型:完整的磁滞回线,初始磁化曲线,磁导率曲线

可测试的材料形状:条带,环状,棒状,不规则形状


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